X-RAY XDL 210設計理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。
XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。所有的操作，測量數據的計算，以及測量數據報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。XDL 型光譜儀是**而保護**的測量儀器，型式許可符合德國“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法規規定。
x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210通用規范：
用途
能量色散X 射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構，分析合金和微量組分。
元素范圍 多同時測量從氯（Cl 17）到鈾（U 92）之間的24 種元素設計理念 臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向 從上到下
X 射線源
X 射線源 帶鈹窗口的鎢管
高壓 三種高壓： 30 kV，40 kV，50 kV，可調整
孔徑（準直器） Ø 0.3 mm (可選：圓形Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；長方形0.3 mm x 0.05 mm)
測量點
取決于測量距離及使用 的準直器大??；實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致。
小的測量點大小約Ø 0.16mm.
測量距離，如測量腔體內部
0 ~ 80 mm，未校準范圍，使用保護的DCM 功能
0 ~ 20 mm，已校準范圍， 使用保護的DCM 功能
X 射線探測
X 射線接收器 比例接收器
樣品定位
視頻顯微鏡
高分辨 CCD 彩色攝像頭， 用于查看測量位置
手動調焦或自動聚焦
十字線刻度和測量點大小經過校準
測量區域照明亮度可調
激光點用于定位樣品
放大倍數 20x ~ 180x (光學變焦: 20x ~ 45x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
樣品臺 XDL 210
設計 固定式樣品平臺
大移動范圍 -
X/Y 平臺移動速度 -
X/Y 平臺移動重復精度 -
Z 軸移動范圍 -
可用樣品放置區域 463 x 500 mm
樣品大重量 20 kg
樣品大高度 155/90/25 mm
激光定位點 -
FISCHERSCOPE X-RAY XDL
鍍層厚度 材料分析 顯微硬度 材料測試
x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210電氣參數：
電壓，頻率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率 大 120 W (不包括計算機)
保護等級 IP40
x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210儀器規格：
外部尺寸 寬x 深x 高[mm]：570 x 760 x 650
重量 XDL210：90 kg；XDL220：95 kg ；XDL230：105 kg；XDL240：120 kg
內部測量室尺寸 寬x 深x 高[mm]: 460 x 495 (參考“樣品大高度”部分的說明)
環境要求
操作溫度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F
儲藏或運輸溫度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空氣濕度 ≤ 95 %，無結露
x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210計算系統：
計算機 帶擴展卡的計算機系統
軟件
標準： WinFTM® V.6 LIGHT
可選： WinFTM® V.6 BASIC，PDM，SUPER
x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210執行標準：
CE 合格標準 EN 61010
X 射線標準 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
型式許可
**而保護**的測量儀器，型式許可符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”
法規規定。
如有特殊要求，可于Fischer 磋商，定制特殊的XDL 型號。
涂裝 相關儀器：涂層測厚儀，漆膜硬度測試儀，電解膜厚儀，黏度計/粘度計，X射線測厚儀，附著力測試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測定儀，光譜儀，涂膜干燥時間記錄儀，標準光源箱
